Mme Scheuerman est consultante en génie électrique et possède plus de 9 ans d'expérience spécifique dans le secteur des assurances, en plus de son expérience dans le dépannage et les essais dans d'autres secteurs de l'ingénierie. Mme Scheuerman effectue l'évaluation des dommages après sinistre sur les équipements électriques et mécaniques. En tant que consultante senior au sein d'EFI Global, Mme Scheuerman procède à des inspections approfondies des équipements afin de déterminer l'étendue des dommages, les réparations/restaurations nécessaires et identifie des solutions rentables pour atténuer les interruptions d'activité. Mme Scheuerman travaille directement avec les propriétaires d'équipements, leurs représentants techniques et les fabricants afin de résoudre avec succès les réclamations relatives aux équipements.

Domaines d'expertise :

• Enquête sur la cause du sinistre et/ou détermination de la portée et de l'étendue des dommages
• Fournit des options de récupération (réparabilité, remplacement, restauration)
• Réaliser une analyse complète de la contamination et aider à définir l'étendue des travaux de restauration.
• Il fournit des recommandations sur les coûts et le calendrier des réparations, du remplacement par un produit de même nature et de même qualité, de la valeur réelle en espèces ou de la valeur dépréciée, de la valeur de récupération et de la juste valeur marchande,
• Saisit l'exposition au risque de sinistre pour aider à fixer les provisions
• Faciliter les mesures d'atténuation afin de réduire au minimum les interruptions d'activité
• Examiner et valider les devis et factures de recouvrement

Industries : Industrie - Traitement des aliments - Chauffage et refroidissement - Radiodiffusion - Télécommunications - Fabrication - Médical, dentaire, laboratoires - Distribution d'énergie - Impression

Risques : Foudre, surtension, neutre flottant, monophasage | Incendio et explosion | Contamination par la suie et l'eau | Vandalisme | Erreur de l'opérateur | Impact physique

Licence en génie électrique, Université de Kettering, Flint, Michigan